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高性能X射線熒光測(cè)試儀 |
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| 型 號(hào)：XDV -SDD |
| 品 牌：德國(guó)菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素 |
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文山高性能X射線熒光測(cè)試儀-XDV -SDD-德國(guó)菲希爾Fischer
高性能X射線熒光測(cè)試儀，defelsko涂層測(cè)厚儀，配有可編程XY平臺(tái)和Z軸，手持式涂層測(cè)厚儀，可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點(diǎn)
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高級(jí)型號(hào)儀器，鍍鋅層測(cè)厚儀，具有常見(jiàn)的所有功能
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射線激發(fā)量的靈活性最大，壁厚儀，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
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通過(guò)硅漂移探測(cè)器，時(shí)代涂層測(cè)厚儀，在 > 10萬(wàn)cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號(hào)量下也可以正常工作，國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
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極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
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帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
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大容量便于操作的測(cè)量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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測(cè)量極薄的鍍層，非鐵基涂層測(cè)厚儀，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
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痕量分析，電磁涂層測(cè)厚儀，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
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進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
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光伏產(chǎn)業(yè)
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測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分
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